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新技术只需一次测试即可对胚胎进行全面的基因检查

导读 卡罗琳斯卡医学院和马斯特里赫特大学的研究人员开发出一种技术,只需一次测试即可检查胚胎中所有已知的遗传异常。新方法比现有技术更准确、...

卡罗琳斯卡医学院和马斯特里赫特大学的研究人员开发出一种技术,只需一次测试即可检查胚胎中所有已知的遗传异常。新方法比现有技术更准确、更快速,增加了患遗传疾病风险较高的父母生育健康孩子的机会。

该研究于今日(9 月 2 日)发表在《自然通讯》上。

有可能生出患有严重遗传性疾病的孩子或因染色体异常而反复流产的准父母可以选择植入前基因检测 (PGT),也称为胚胎选择。这是一种 IVF 治疗,其中筛查胚胎是否存在已知的遗传异常,并且只有没有异常的胚胎才会被放入子宫中。

在卡罗琳斯卡医学院临床科学、干预和技术系附属研究员、遗传学家 Masoud Zamani Esteki 的带领下,马斯特里赫特 UMC+ 的研究人员开发出一种技术,可以在一次测试中分析整个基因组(所有基因和染色体) 。这意味着现在可以更快、更有效地检测到任何需要帮助的遗传疾病。

多个测试被单个测试取代

基因异常可能发生在不同的地方。例如,单个基因的改变可能会增加遗传性乳腺癌的风险,而染色体异常则可能导致反复流产,因为胚胎无法存活。

以前,需要进行不同的测试来检测不同类型的异常,这意味着每对夫妇都需要进行单独的基因检查来决定使用哪种测试。

新的测试可以检测出所有已知类型的异常,每个人的初步程序都相同,而且速度更快。

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